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微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定を、かつてない低コストで実現
●特殊ハーフミラー（特許取得済）の採用により、裏面反射光をカットし、裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。（薄板0.2mmの反射率測定が可能：×20倍対物レンズ使用時）
●レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。（試料面に微小スポット（φ50μm）を結ぶ）
●低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。（独自の光学設計により光量を最大限に取り込み、512素子のリニアPDA、16bit A/Dコンバータ内蔵、USB2.0インターフェース高速演算でスピーディな測定を実現）
●色度測定、L*a*b*測定ができます。分光反射率から分光測色法に基づき物体測定ができます。
●Microsoft Excel(R)形式でのデータ保存が可能です。
●単層膜を非接触、非破壊で測定ができます。
●同一の画面上に複数の測定結果を表示機能付きです。測定結果の比較が容易になります。
このカタログについて
| ドキュメント名 | 反射率測定装置 MSP-100 |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 303.3Kb |
| 関連製品 | |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社渋谷光学 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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