AOI装置

MV-7OMNI series

過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置

日本ミルテック株式会社

SMT電子部品実装業界向け外観検査装置です。
プリント基板に電子部品を実装した製品をカメラで撮像し、その実装状態(部品の有無・部品のズレ・部品違い・部品のはんだ付け状態)を自動検査する装置です。

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OMNI-VISION® 2D/3D Inspection Technology

3D計測の原理と活用
モアレ縞の光をプロジェクタから実装部品に照射し、その反射光をカメラで撮影します。その光の位相のズレから部品の高さが計測出来ます。(反射型位相シフトモアレ法)

この原理を活用し、部品、ICリード部の高さを計測します。その高さの違いから部品の浮き、ICリードの浮き、部品の表裏反転、欠品等の検査を実施します。従来の2Dの検査より、不良検出力が大幅に向上します。その為、2D検査の課題であった過剰検出の低減が図れます。

3D(高さ)で不良検出力が向上する検査項目
ICリードの浮き
チップ部品等部品の浮き、傾き
部品の有無(欠品検査)
ミニトランジスタ等部品の表裏反転


・デジタルモアレ縞照射方式による計測精度の向上
従来のモアレ縞照射では1種類のモアレ縞パターンしか照射出来ませんでした。しかし、デジタルモアレ縞方式のプロジェクタの開発により、複数のモアレ縞を瞬時に切り替え照射する事が可能になりました。この技術を活用し、2種類のモアレ縞を照射し、測定精度を向上させました。

・高い部品の影響回避(4方向からの照射)
測定したい部品に隣接する高い部品が有る場合は、モアレ縞パターンがその高い部品に遮られ、高さ計測が出来ません。その為、4方向からモアレ縞パターンを照射し、その問題を回避しています。

モアレ縞反射の影響回避

チップに隣接するモアレ縞が乱反射し易い部品(電解コン・クリスタル)の影響を受ける事無く、3D検査が可能です。

検出サンプルICリードの浮き(2D検査との比較)

微妙なリード浮きでも、リードの高さ計測値で検査が出来るので、2次元外観検査装置より正確な検査が出来ます。

日本ミルテック株式会社

SMT業界向け画像検査装置及びその周辺装置の販売とメンテナンス業務 LEDパッケージ工程向け画像検査装置及びその周辺装置の販売とメンテナンス業務 大気圧プラズマクリーナーの販売 静電気可視化装置の販売...

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